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génération de séquences de test - test pattern generation (TPG)

génération de séquences de test

Abréviation : GST.
Domaine : Électronique/Composants électroniques.
Définition : Opération automatisée qui consiste à créer les séquences de tests permettant de vérifier le bon fonctionnement d'un circuit.
Note : En général, les générateurs de séquences de test vérifient que chacun des nœuds du circuit sera observable en vue de mettre au point une séquence de tests dont le cheminement à travers le circuit active tous ses nœuds et permet de propager les fautes jusqu'aux broches de sortie du composant.
Voir aussi : séquence de test, vecteur.
Équivalent étranger : test pattern generation (TPG).

(Source : arrêté du 29 avril 1992)

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