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test intégré - built-in self test

test intégré

Domaine : Électronique/Composants électroniques.
Définition : Un test intégré est un test réalisé au moyen de cellules introduites dans un circuit, permettant l'analyse des nœuds d'interconnexion.
Équivalent étranger : built-in self test.

(Source : arrêté du 29 avril 1992)

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